近红外隐裂检测光源 儿L-LXS-260X71R1050-CRACK
检测晶硅电池片的隐裂和崩边缺角。
检测脏污、手指印和脱晶等多种缺陷。
高质量的均匀性及高亮度的光源满足不同产线的使用节拍。
隐裂与崩边缺角的同时检出更具优秀的性价比。
检测脏污、手指印和脱晶等多种缺陷。
高质量的均匀性及高亮度的光源满足不同产线的使用节拍。
隐裂与崩边缺角的同时检出更具优秀的性价比。
产品特点
检测晶硅电池片的隐裂和崩边缺角。
检测脏污、手指印和脱晶等多种缺陷。
高质量的均匀性及高亮度的光源满足不同产线的使用节拍。
隐裂与崩边缺角的同时检出更具优秀的性价比。
应用领域
光伏硅片、电池片隐裂等其它缺陷
成像案例
